島津勝広
データアナリスト エンジニア

1984 千葉大学 大学院工学研究科・工学部卒業

1984-1988LSIデバイス企業ではプロセスインテグレーションに携わる

2001-2010 エンゲージメントディレクターとしてPDFソリューションでのLSIのランプコンサルティングとテストチップ解析を担当

2011-2018 サムスンエレクトロニクスにて技術顧問としてLSI製品の収量予測およびFinFETのマシンラーニング装置を設計

2018 データ分析エンジニアとしてのOptimal Plusの半導体および電子機器のデータ分析を行う

製品の高い品質性能を満たすための高度な異常検知手法

自動車やコンシュマー製品への高品質と信頼性のために、ウェーハソートにおける異常検知の最善方法とアルゴリズムについて説明。 また、PATPart Average Testing)アルゴリズムをOptimal +ソリューション内で、地理的アルゴリズムとパラメトリック・アルゴリズムの両方を組み合わせた、シンプルなルールが変換される方法を解説。最後に、多変量異常値スクリーニングやスクラッチ検出など、近年開発された最新のアルゴリズムを紹介する。

懇親会の出欠
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